取得您的SSEF鑑定證書
2010年香港珠寶首飾展覽會
9月14-18日 亞洲國際博覽館 AsiaWorld-Expo
9月16-20日 香港會議展覽中心 Convention & Exhibition Centre Hong Kong
親愛的客戶,
2009年9月份香港珠寶首飾展覽會裡,我們將同時提供兩個展覽場地的現場鑑定服務!
9月14-18,請您至我們在亞洲國際博覽館的新展位:NO. AWE 7P31
9月16-20,於香港會議展覽中心和往年同樣設展位:NO. CEC 3M055
展會現場連絡電話:+ 852 9552-9621
華語服務:+ 852 9273-5689
誠摯邀請您來到SSEF的展位,讓我們為您的瑰麗珠寶首飾以及彩寶裸石進行鑑定。例如:紅寶、藍寶、祖母綠、翡翠,或是不具珠光的珠子。
在展會現場您將先收到初步的寶石鑑定報告書。附有彩圖、封面、護套的完整正式證書,將在展會結束後寄到您指定的地址。
期待在展會中相會,讓我們為您提供最新的產品和專業的服務,包括最新設計引人注目的寶石圖片卡SSEF Photocards。
SSEF 瑞士寶石學院 敬上
Falknerstrasse 9 CH-4001 Basel Switzerland Tel. +41 61 262 06 40 Fax +41 61 262 06 41 gemlab@ssef.ch www.ssef.ch
2010年8月14日 星期六
除去粉剛的藍色調:探查低溫熱處理的粉剛
除去粉剛的藍色調:探查低溫熱處理的粉剛
粉紅色剛玉總是跟隨著時尚潮流,特別是東非和馬達加斯加發現的新礦床後,不論是寶石的數量或是大小,在珠寶市場中一直佔有一席之地。相較下,鮮艷的粉紅色剛玉比起帶有些許紫色調的能得到更高的評價。對有色寶石施以大約800到1000度的熱處理,應能大幅提昇它們的顏色,事實上這種被稱為〝低溫〞的熱處理,因為減少或去除了組成藍色的成份而留下粉紅色,是由於含有少量的鉻元素存在於晶體構造中。
圖2.因熱處理而造成的類似環礁狀結構的包裹體具融化的狀態。這種特徵在一千度以上的熱處理才會出現,一千度以下的溫度,顯微鏡下通常就難以找出這些跡象。©M.S.Krzemnicki, SSEF
How to get the “Blues” out of the Pink:
Detection of low-temperature heating of pink sapphires
文:瑞士寶石研究所 所長Dr.Krzemnicki 麥可.欽尼斯基博士 譯: Judy TU粉紅色剛玉總是跟隨著時尚潮流,特別是東非和馬達加斯加發現的新礦床後,不論是寶石的數量或是大小,在珠寶市場中一直佔有一席之地。相較下,鮮艷的粉紅色剛玉比起帶有些許紫色調的能得到更高的評價。對有色寶石施以大約800到1000度的熱處理,應能大幅提昇它們的顏色,事實上這種被稱為〝低溫〞的熱處理,因為減少或去除了組成藍色的成份而留下粉紅色,是由於含有少量的鉻元素存在於晶體構造中。
一般來說,熱處理剛玉的鑑定要以顯微鏡進行小心翼翼的觀察,尤其是當加熱到1000℃以上,我們可以看到許許多多因熱處理而產生的特徵,這些特徵通常發生在大多數藍寶石和紅寶石的身上。像是環礁狀結構的包裹體,它們在加熱的過程中會發生熔融或爆炸,這算是熱處理中最突出的特徵(圖 2);然而,當涉及到所謂的低溫燒法的粉紅色剛玉,這些特徵會變得微少,有時根本不存在而無法查覺。
圖2.因熱處理而造成的類似環礁狀結構的包裹體具融化的狀態。這種特徵在一千度以上的熱處理才會出現,一千度以下的溫度,顯微鏡下通常就難以找出這些跡象。©M.S.Krzemnicki, SSEF
為了能夠清楚地鑑別出低溫加熱的粉紅色剛玉,我們在不同的溫度下(400,600,800和1000 ° C)做了大量的樣品測試,分析它們加熱前以及加熱後的改變 (圖1)。在研究中顯示,針對產自東非及馬達加斯加的粉紅色剛玉,我們能夠清楚判斷出該寶石是否經過低溫熱處理,鋯石是關鍵,也通常存在於這兩處產地的剛玉寶石中,所以能夠以拉曼光譜技術對鋯石進行偵測。
圖1. 一系列產自馬達加斯加的粉剛,加熱1000度前(上)和加熱後(下)。熱處理對這些寶石造成明顯的效果,去除了藍色的成分而更美麗符合市場需求。©M.S.Krzemnicki, SSEF
在加熱前,由於放射性衰變的鈾痕跡存在鋯石裡,而鋯石包裹體呈蛻晶質狀態(晶格局部損壞)。我們的實驗顯示,這些鋯石包裹體因為施加的溫度而會重拾恢復了結晶度。從拉曼光譜中可發現所引起的光譜寬度和峰譜直徑的差異。此外,在800℃以上的溫度,更看到一個螢光激發光譜發光峰的顯影。具我們所知,SSEF研究所率先也是唯一發現以FWHM標準(圖4)應用在鋯石包裹體檢測,此法能準確鑑別出低溫燒法的粉紅色剛玉。
註: 所謂FWHM- Full Width at Half Maximum為「一半最大能量值之全寬」來定義雷射光束直徑,由觀測半高寬FWHM的大小以衡量此批sample晶格結構是否均一。
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